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高溫介電溫譜測(cè)試儀主要應(yīng)用于高溫下材料的介電性能測(cè)試與分析，包括介電常數(shù)、介電損耗、電容等參數(shù)，同時(shí)測(cè)試出測(cè)試材料的其他阻抗參數(shù)，廣泛應(yīng)用于陶瓷材料、半導(dǎo)體器件及功能薄膜材料等研究 。
主要功能： 材料介電常數(shù)測(cè)試儀 半導(dǎo)體材料的介電常數(shù)、導(dǎo)電率和C-V特性液晶材料:液晶單元的介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性 性能特點(diǎn): 溫度：RT-1000℃ 測(cè)試頻率: 20Hz- 21MHz, 分辨率:最高0.1mHz 基本精度: 0.05% 測(cè)試速度:最快5. 6ms/次 測(cè)試原理:自動(dòng)平衡電橋 高穩(wěn)定性和一致性:高達(dá)15個(gè)測(cè)試量程配置 高分辨: 7英寸, 800X600
隨著固體粉末在化工、航天、醫(yī)藥、食品、塑料制品等行業(yè)越來(lái)越廣泛的應(yīng)用，必然需要更多、更精確的以工藝過(guò)程控制、產(chǎn)品混合均勻度測(cè)試、物料含量檢測(cè)等為目的的儀器，以期優(yōu)化產(chǎn)品的過(guò)程控制、提高產(chǎn)品質(zhì)量，F(xiàn)WJD-600型粉末高溫介電溫譜儀是一款新型的高溫介電溫譜測(cè)試系統(tǒng)，
GWJDN-800型四通道高低溫介電測(cè)量系統(tǒng)應(yīng)用于高溫環(huán)境下材料、器件的導(dǎo)電、介電特性測(cè)量與分析，通過(guò)配置不同的測(cè)試設(shè)備，完成不同參數(shù)的測(cè)試。是一代高溫介電測(cè)試系統(tǒng)，性能*，*科研級(jí)別的精密測(cè)試裝置，是國(guó)家科研院所和高等學(xué)府的設(shè)備。
HTRC-600型高溫導(dǎo)電材料電阻率測(cè)試系統(tǒng)是一款專門(mén)用于測(cè)量材料電阻，電導(dǎo)率的設(shè)備，采用由四端測(cè)量方法測(cè)試電阻率系統(tǒng)與高溫試驗(yàn)箱為一體的的高溫測(cè)試系統(tǒng)，滿足半導(dǎo)體及導(dǎo)體材料因溫度變化對(duì)電阻值變化的 測(cè)量要求，通以在高溫 、真空、氣氛的條件下測(cè)量導(dǎo)電材料電阻和電阻率，可以分析被測(cè)樣的電阻和電阻率隨溫度、 時(shí)間變化的曲 線． 目前主要針對(duì)圓片、方塊、長(zhǎng)條等樣品進(jìn)行測(cè)試，可以廣泛用于碳系導(dǎo)電
當(dāng)前位置：