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目前常規(guī)的方法是通過電滯回線計(jì)算高壓下電介質(zhì)的能量密度,測(cè)試時(shí),樣品的電荷是放回到高壓源上,而不是釋放到負(fù)載上,通過電滯回線測(cè)得的儲(chǔ)能密度一般會(huì)大于樣品實(shí)際釋放的能量密度,無法正確評(píng)估電介質(zhì)材料的正常放電性能。DCD-100儲(chǔ)能型電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)專為研究儲(chǔ)能電介質(zhì)材料快速充放電性能而設(shè)計(jì),適用陶瓷、薄膜材料,可進(jìn)行變溫下的欠、過阻尼充放電測(cè)試。是目前研究儲(chǔ)能材料的重要科研設(shè)備,是目前高等院校和