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型號:GWJD-1000
高溫介電溫譜測試儀

描述:高溫介電溫譜測試儀主要應用于高溫下材料的介電性能測試與分析,包括介電常數(shù)、介電損耗、電容等參數(shù),同時測試出測試材料的其他阻抗參數(shù),廣泛應用于陶瓷材料、半導體器件及功能薄膜材料等研究 。

  • 廠商性質

    生產廠家
  • 更新時間

    2024-11-14
  • 訪問量

    2784
詳細介紹
品牌其他品牌產地類別國產
應用領域電氣

GWJD-1000型高溫介電性能測量系統(tǒng)(四通道測試,同時測試4個樣品)介紹:

關鍵詞:高溫介電溫譜測試儀、高溫介電性能測量系統(tǒng)、高溫介溫譜能系統(tǒng)。

高溫介電溫譜測試儀

產品介紹:

GWJD-1000型高溫介電性能測量系統(tǒng)主要應用于高溫下材料的介電性能測試與分析,包括介電常數(shù)、介電損耗、電容等參數(shù),同時測試出測試材料的其他阻抗參數(shù),廣泛應用于陶瓷材料、半導體器件及功能薄膜材料等研究 。

產品優(yōu)勢:

1.耐高溫、1000°C不氧化,電極阻抗低、絕緣好

2.四通道測試,可以同時測試1-4個樣品,方便快捷

3.數(shù)據(jù)分析軟件:提供多種掃描曲線,可以在多窗口之間切換數(shù)據(jù)

《符合ASTMD150和D2149-97標準>><<符合GB/T1409-2006介電常數(shù)和介電損耗的推薦方法》

產品特點:

1.可以在高溫、寬頻、真空條件下測量固體、薄膜樣品的介電性能

2.可以分樣品的頻率譜、溫度譜、偏壓譜、阻抗譜、介電譜、時間譜等測量功能

3.可以測量樣品的介電常數(shù)、介電損耗,電容C,損耗D,電感L,品質因數(shù)Q,阻抗Z等物理量;以實現(xiàn)介電常數(shù)和介電損耗隨多個溫度、多個頻率變化的曲線,時間和電壓變化的曲線

4.可提供塊體,薄膜,單樣品,四樣品夾具,滿足不同測試要求

高溫介電溫譜測試儀主要技術指標:

測量溫度:室溫-1000°C

升溫斜率:2°C/min

頻率范圍:20-30MHZ

精度:0.05%

測量精度:±0.1°C

控溫精度:±1°C(PID精準控溫)

高溫樣品桿:耐高溫、1000°C不氧化,電極阻抗低、絕緣好

測試方法:兩線法或四線法

測試通道數(shù):1-4通道

一次可測樣品數(shù):1-4個樣品

樣品尺寸:直徑小于2-10mm,厚度小于1-10mm,樣品放置位置靈活,可快捷安裝和拆卸

測量精度:0.05%

AC電平:0V到1Vrms

直流偏壓:0到±40V/100mA

數(shù)據(jù)存儲:EXCEL表格等多種格式

加熱方式:電阻絲加熱

真空度范圍:100Pa-1大氣壓

電極材料:鉑金

數(shù)據(jù)傳輸:4個USB接口

儀器通訊:USB或GPIB


 
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