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應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子,航天,綜合 |
FE-5001型鐵電參數(shù)測試儀/PUND測試
關(guān)鍵詞:電滯回線,疲勞Fatigue,漏電流LM,電流-偏壓
FE-5001型鐵電參數(shù)測試儀/PUND測試是一款功能豐富的鐵電參數(shù)測試儀/PUND測試,可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲器等領(lǐng)域的研究。
鐵電參數(shù)測試主要性能指標(biāo):
a. 外接5 kV高壓放大器;
b. 動態(tài)電滯回線測試頻率范圍0.01 Hz ~ 1 kHz;
c. 最大電荷解析度:10 mC;
d. 疲勞測試頻率300 kHz(振幅10 Vpp,負(fù)載電容1 nF);
e. 漏電流測量范圍 1 pA ~ 20 mA,分辨率0.1 pA;
f. 配有高壓擊穿保護(hù)模塊。
本測試系統(tǒng)由主控器、高壓放大器、變溫綜合測試平臺(配鐵電測試盒)或高低溫探針臺(配高壓探針)、計(jì)算機(jī)及系統(tǒng)軟件部分組成。主控器集成了可編程波形發(fā)生器、內(nèi)置驅(qū)動電壓、電荷積分器、可編程放大器、模數(shù)轉(zhuǎn)換器、通訊總線等功能,主控器提供擴(kuò)展外置高壓放大器接口,可擴(kuò)展±5 kV或±10 kV的高壓放大器。系統(tǒng)軟件包括可視化數(shù)據(jù)采集和管理功能,測試時(shí),無需改變測試樣品的連接,即可實(shí)現(xiàn)滯回,脈沖,漏電,IV等性能測試。
本鐵電參數(shù)測試儀/PUND測試采用改進(jìn)的Sawyer- Tower測量方法,與傳統(tǒng)的Sawyer- Tower模式相比,此電路取消了外接電容,可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅取決于積分器積分電容的精度,減少了對測試的影響環(huán)節(jié),容易定標(biāo)和校準(zhǔn),并且能實(shí)現(xiàn)較高的測量準(zhǔn)確度。
該系統(tǒng)測試功能:
動態(tài)電滯回線DHM
I-V特性
脈沖PUND
疲勞Fatigue
漏電流LM
電流-偏壓。