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型號(hào):
近代物理學(xué)及材料研究ZJ-3型D33測(cè)試儀

描述:關(guān)于近代物理學(xué)所擴(kuò)展新實(shí)驗(yàn)設(shè)備(ZJ-3壓電,TDZT-04C鐵電,DLT-01 Dielectric tester型介電測(cè)試儀)

近代物理實(shí)驗(yàn)室現(xiàn)有實(shí)驗(yàn)室面積約800平方米,總資產(chǎn)達(dá)1200多萬元,涉及原子物理、原子核物理、固體物理、凝聚態(tài)物理、磁學(xué)、光學(xué)、真空技術(shù)、當(dāng)代新興物理實(shí)驗(yàn)技術(shù)等領(lǐng)域的綜合設(shè)計(jì)性項(xiàng)目30個(gè),為學(xué)生開設(shè)80學(xué)時(shí)的必修課程。另有微結(jié)構(gòu)材料設(shè)計(jì)與性能模擬平臺(tái)一個(gè),用于進(jìn)行虛

  • 廠商性質(zhì)

    生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間

    2024-11-05
  • 訪問量

    475
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詳細(xì)介紹
品牌ACE Controls/美國(guó)產(chǎn)地類別國(guó)產(chǎn)
應(yīng)用領(lǐng)域電子,交通,冶金,航天

關(guān)于近代物理學(xué)所擴(kuò)展新實(shí)驗(yàn)設(shè)備(ZJ-3壓電,TDZT-04C鐵電,DLT-01 Dielectric tester型介電測(cè)試儀)

近代物理實(shí)驗(yàn)室現(xiàn)有實(shí)驗(yàn)室面積約800平方米,總資產(chǎn)達(dá)1200多萬元,涉及原子物理、原子核物理、固體物理、凝聚態(tài)物理、磁學(xué)、光學(xué)、真空技術(shù)、當(dāng)代新興物理實(shí)驗(yàn)技術(shù)等領(lǐng)域的綜合設(shè)計(jì)性項(xiàng)目30個(gè),為學(xué)生開設(shè)80學(xué)時(shí)的必修課程。另有微結(jié)構(gòu)材料設(shè)計(jì)與性能模擬平臺(tái)一個(gè),用于進(jìn)行虛擬仿真實(shí)驗(yàn),共有35個(gè)項(xiàng)目,其中課內(nèi)安排了2個(gè)項(xiàng)目共10學(xué)時(shí)。近代物理中的壓電(D33測(cè)試儀,TDZT-0C4型鐵電測(cè)試儀,DLT-01型介電測(cè)試儀,PZT-JH10/4型壓電極化設(shè)備,這些都是目前近代物理及材料,機(jī)電學(xué)院的重要設(shè)備之一。具體資料和技術(shù)如下:

產(chǎn)品名稱

招標(biāo)技術(shù)參數(shù)

ZJ-3型精密D333測(cè)試儀主要介紹

ZJ-3型壓電測(cè)試儀(靜壓電系數(shù)d33測(cè)量?jī)x)是為測(cè)量壓電材料的d33常數(shù)而設(shè)計(jì)的專用儀器,它可用來測(cè)量具有大壓電常數(shù)的壓電陶瓷,小壓電常數(shù)的壓電單晶及壓電高分子材料。此外,也可測(cè)量任意取向壓電單晶以及某些壓電器件的等效壓電d’33常數(shù),儀器測(cè)量范圍寬,分辨率細(xì),可靠性高,操作簡(jiǎn)單,對(duì)試樣大小及形狀無特殊要求,圓片、圓環(huán)、圓管、方塊、長(zhǎng)條、柱形及半球殼等均可測(cè)量,測(cè)量結(jié)果和極性在三位半數(shù)字面板表上直接顯示。ZJ-3型增加了對(duì)被測(cè)元件的放電保護(hù)、放電提示以及被測(cè)波形輸出等功能,使得儀器在測(cè)量未放電(尤其是較大尺寸)的壓電元件時(shí)具備了高電壓放電提示及保護(hù)功能,本儀器是從事壓電材料及壓電元件生產(chǎn)、應(yīng)用與研究部門的儀器。

   

近代物理學(xué)及材料研究ZJ-3型D33測(cè)試儀

ZJ-3型精密D333測(cè)試儀主要技術(shù)參數(shù)

d33測(cè)量范圍:

×1擋:10到2000pC/N,20 至4000pC/N,可以升級(jí)到10000PC/N.
 ×0.1擋: 1到200pC/N,2 至400pC/N。

可配D31塊體夾具,D15塊體夾具,D15圓管夾具,薄膜拉伸夾具

可以配套PZT-JH10/4/8/12型壓電極化裝置使用

可以配套ZJ-D33-YP15壓電壓片機(jī)使用
 誤差:×1擋:±2%±1個(gè)數(shù)字,當(dāng)d33在100到4000pC/N;

計(jì)量標(biāo)定標(biāo)準(zhǔn)樣尺寸:18mm*0.8mm,老化時(shí)間:2-3年(評(píng)判壓電測(cè)試儀準(zhǔn)確性能的重要依據(jù)之一)
 ±5%±1個(gè)數(shù)字,當(dāng)d33在10到200pC/N;
 ×0.1擋:±2%±1個(gè)數(shù)字,(當(dāng)d33在10到200pC/N)
 ±5%±1個(gè)數(shù)字,當(dāng)d33在10到20pC/N。
 分辨率:   ×1擋:1 pC/N;×0.1擋:0.1   pC/N。
 尺寸:施力裝置:Φ110×140mm;儀器本體:240×200×80mm。
 重量:施力裝置:約4公斤;    
 儀器本體:2公斤。
 電源:220伏,50赫,20瓦。

補(bǔ)充參數(shù):

頻帶寬度

DC~7MHz

Y偏轉(zhuǎn)系數(shù)

10mV/div~5V/div, 分9檔

X偏轉(zhuǎn)系數(shù)

0.2μS/div~0.1S/div, 分18檔

X擴(kuò)展

×2

觸發(fā)源

內(nèi)、外、電視場(chǎng)

同步方式

自動(dòng)、觸發(fā)

有效顯示面

6div×10div(1div=0.6cm)

使用電源

AC 220V/50Hz

外形尺寸

240B×100H×300Dmm

重量

3kg


TDZT-04C鐵電性能綜合測(cè)試系統(tǒng)

TDZT-04C鐵電性能綜合測(cè)試系統(tǒng)是最新一代鐵電材料參數(shù)測(cè)試儀適用于鐵電薄膜、鐵電體材料(既可塊體材料)的電性能測(cè)量,可測(cè)量鐵電薄膜電滯回線、I—V特性及開關(guān)特性,可精確地測(cè)出具有非對(duì)稱電滯回線鐵電薄膜的Pr值。可測(cè)鐵電體材料的電滯回線及I—V特性。



近代物理學(xué)及材料研究ZJ-3型D33測(cè)試儀


TDZT-04C鐵電性能綜合測(cè)試系統(tǒng)

主要技術(shù)參數(shù)

主要技術(shù)指標(biāo):

1.輸出信號(hào)電壓::薄膜:0~±10V 陶瓷、材料:0~±2000V

2.輸出信號(hào)頻率:薄膜材料1-1000HZ,陶瓷:0-1Hz

3.電容范圍:1000nf 100nf, 精度1%。

4.電流范圍:   1nA10A   ,精度:   1%

5、測(cè)試樣品:0-20mm  5個(gè)

6、高壓樣品池:開放式:8CM*5CM

7、三維移動(dòng)薄膜測(cè)試平臺(tái):直立式探針一套

8、電流:1-10倍放大,信號(hào):1-20倍。.數(shù)據(jù)結(jié)口:USBBNC接口。

9. 數(shù)據(jù)采集分析軟件: 能畫出鐵電薄膜的電滯回線,定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流等參數(shù);可以進(jìn)行鐵電薄膜材料的鐵電疲勞性能、鐵電保持性能的測(cè)試,電阻測(cè)量,漏電流測(cè)量。

10.可以配合ZJ-3ZJ-6型壓電測(cè)試儀操作系統(tǒng)

PZT-JH10/4壓電極化裝置(10KV以下壓電陶瓷同時(shí)極化1-4片)

        PZT-JH10/4壓電極化裝置(10KV以下壓電陶瓷同時(shí)極化1-4片)

關(guān)鍵詞:壓電極化,壓電陶瓷材料,1-4

近代物理學(xué)及材料研究ZJ-3型D33測(cè)試儀

主要特點(diǎn):

1.能夠同時(shí)極化1-4片試樣

2.提供多套測(cè)試夾具(可以測(cè)試粉末,單樣品,及薄的壓電陶瓷片)

2. 安全可靠,溫度補(bǔ)償快、恒溫精度高

3. 每路當(dāng)漏電流超過規(guī)定值時(shí),都具有切斷保護(hù)功能,不影響其它樣片的極化,其它回路可按正常極化時(shí)間完成極化。

4. 任意夾持樣品尺寸為0-40mm片方型或是圓型試樣

7、工作電源:AC220V    50/60HZ

8、額定功率:2.0kw

9、壓電材料極化或耐壓測(cè)試:DC0-10KV(±5+2個(gè)字)連續(xù)可調(diào)

10、總電流:10mA

11、每路切斷電流:0.5mA

12、加熱時(shí)間:可以自動(dòng)設(shè)定  

13、加熱元件 :優(yōu)質(zhì)電阻絲

141次測(cè)試試樣數(shù)量:可加載1-4片試樣

15、額定溫度 :≤180

16、最高溫度 200

17、控溫方式 :智能化恒溫控制(進(jìn)口表),多段程序可控

18、樣片 :樣品尺寸為3-40mm片方型或是圓型試樣

19、外形尺寸    875*470*400mm)

20、極化探頭:優(yōu)質(zhì)銅電極(0.2mm

21、標(biāo)準(zhǔn)極化樣品:8片(10mm*1.5mm

21、配套設(shè)備裝置:能夠配合ZJ-3ZJ-6壓電測(cè)試儀進(jìn)行測(cè)量

22、配套設(shè)備裝置:可以配置10MM,20MM,30MM40MM壓片夾具

DLT-01 Dielectric tester型介電測(cè)試儀

DLT-01 Dielectric tester型介電測(cè)試儀

關(guān)鍵詞:介電常數(shù),諧振頻率Fp,機(jī)電耦合系數(shù)Ke?,機(jī)械品質(zhì)因素 Qm

       

近代物理學(xué)及材料研究ZJ-3型D33測(cè)試儀

  DLT-01 Dielectric tester型介電測(cè)試儀是一款多功能的介電測(cè)試儀,即可測(cè)試包括介電常數(shù)、介電損耗、電容等參數(shù),又可以測(cè)量諧振頻率Fs,反諧振頻率Fp,機(jī)電耦合系數(shù)   Ke?,機(jī)械品質(zhì)因素 Qm,最大導(dǎo)納Gmax等材料參數(shù),為材料研究測(cè)試提供第一手原始數(shù)據(jù),提供元整的數(shù)據(jù)圖,是高等院校,科研院所及材料研究生產(chǎn)的重要工具,同時(shí)還可以配合高溫設(shè)備,進(jìn)行高溫設(shè)備測(cè)試。

一、主要特點(diǎn):

●自動(dòng)平衡技術(shù)電橋,測(cè)量準(zhǔn)確度高

●4端對(duì)開爾文測(cè)試端,測(cè)量范圍準(zhǔn)確度高

●提供內(nèi)部直流偏壓-5V~+5V

●可選配內(nèi)部±40V偏置電壓源

●簡(jiǎn)體中文、英文操作語言

●分檔測(cè)量、列表掃描、繪圖掃描、開路、短路、負(fù)載校正等等功能

●配備電導(dǎo)率σ·介電常數(shù)ε的運(yùn)算功能

●進(jìn)行測(cè)試數(shù)據(jù)、測(cè)試條件保存(U盤或內(nèi)部)

●繪圖掃描圖像直接拷屏到U盤功能

●加強(qiáng)的測(cè)試端保護(hù)功能

●USB、GPIB、RS232、LAN等上位機(jī)連接接口

二、主要技術(shù)參數(shù)

1、頻率:20HZ-1MHZ,5MHZ,10MHZ,15MHZ,30MHZ,50MHZ多種可選

2、D33測(cè)試范圍:0-6000PC/N(選配ZJ-3型精密壓電系數(shù)測(cè)試儀)

5、基本精度 :0.05%

6、測(cè)試電平: 5mV—2Vrms

7、輸出阻抗: 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

8、測(cè)試參數(shù):D33,電容,介電常數(shù),諧振頻率Fs,反諧振頻率Fp,機(jī)電耦合系數(shù) Ke?,機(jī)械品質(zhì)因素 Qm,最大導(dǎo)納Gmax等

9、通道數(shù):1通道

10、電極: 雙面夾持探針

11、軟件:自動(dòng)計(jì)算并輸出數(shù)據(jù),軟件可根據(jù)實(shí)驗(yàn)方案設(shè)計(jì),通過測(cè)量C和D值,自動(dòng)完成介電常數(shù)和介電損耗隨頻率、電壓、偏壓多維變化的曲線。


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