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教育領(lǐng)域重大設(shè)備更新實(shí)施方案設(shè)備采購資料

更新時(shí)間:2024-07-15  |  點(diǎn)擊率:960

教育領(lǐng)域重大設(shè)備更新實(shí)施方案設(shè)備采購資料

(GDPT-900A變溫壓電D33測(cè)試儀,鐵電,介電)

 

高校、職業(yè)院校的設(shè)備更新項(xiàng)目批復(fù)通知GDPT-900A變溫壓電D33測(cè)試儀,鐵電,介電。具體資料和技術(shù)如下:

 

產(chǎn)品名稱

 

 

招標(biāo)技術(shù)參數(shù)

GDPT-900A型變溫壓電d33測(cè)量系統(tǒng)主要介紹

GDPT-900A型變溫壓電d33測(cè)量系統(tǒng)是我院研制的即可低溫測(cè)試D33系數(shù),又可以高溫測(cè)試D33系數(shù)。主要是針對(duì)高低溫壓電陶瓷材料和薄膜材料的測(cè)試。

二、主要應(yīng)用領(lǐng)域:無損檢測(cè)超聲檢測(cè),醫(yī)療超聲檢測(cè),航空航天,石油天然器,汽車物聯(lián)網(wǎng),,工業(yè)

 

 


 

GDPT-900A型變溫壓電d33測(cè)量系統(tǒng)主要技術(shù)參數(shù)

1、d33測(cè)量范圍:1PC/N-6000PC/N(1.5PC-30000PC)

2、力顯示:0.01-4N

3、電源:電壓220V

4、溫度范圍:溫度-100℃至+500

5、溫控精度:溫度顯示精度0.01℃,溫度控制精度±0.1℃,溫度漂移優(yōu)于±0.1℃內(nèi),超調(diào)≤0.1℃。

6、升溫斜率:0.005.00/min,典型值2.00/min

7、間隔保溫:0.1050.00/點(diǎn),保溫5分鐘即可達(dá)到溫度穩(wěn)定狀態(tài)。  

8、樣品夾具:夾持雙面電極樣品,直徑小于30mm,厚度小于5mm。

9、測(cè)量環(huán)境:低溫、高溫、空氣等。

10、電極材料:耐高溫電極。

11、制冷方式:液氮控制系統(tǒng)

12、顯示:液晶顯示

13、采集方式:USB2.0高速數(shù)據(jù)

14、總重量: 15kg左右。

15、軟件:專用軟件自動(dòng)測(cè)試溫度與壓電系數(shù)的關(guān)系變化

 

GWTF-300高溫鐵電材料測(cè)量系統(tǒng)

GWTF-300高溫鐵電材料測(cè)量系統(tǒng)是一套建立在高溫高壓下的鐵電測(cè)量系統(tǒng),旨在針對(duì)一些特殊的要求材料需要在高溫下測(cè)量而研發(fā)的一套鐵電測(cè)量系統(tǒng)。該系統(tǒng)不僅僅在溫度上將實(shí)現(xiàn)了高溫測(cè)試,而且在電壓和頻率上進(jìn)行了提高,對(duì)我們的鐵電材料研究和測(cè)試帶來更加重要的幫助,該系統(tǒng)可以測(cè)量鐵電材料的電滯回線,飽和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流、疲勞、保持、I-V和開關(guān)特性等性能的測(cè)試。


 

GWTF-300高溫鐵電材料測(cè)量系統(tǒng)技術(shù)指標(biāo)

 

1.輸出信號(hào)電壓::0-4000/5000/6000/10000多種可定制

2.輸出信號(hào)頻率:0.2100Hz(陶瓷、單晶),11kHz(薄膜)

3.電容范圍:電流0到±6mA(陶瓷、單晶),±50mA(薄膜)連續(xù)可調(diào),精度1%。

4.電流范圍: 1nA10A ,精度1%。

5、溫度測(cè)量范圍:0-200

6. 匹配高溫電致應(yīng)變測(cè)試模塊、夾具及自動(dòng)采集軟件。

7.測(cè)試速度:測(cè)量時(shí)間《5/樣品•溫度點(diǎn)

8. 樣品規(guī)格:塊體材料尺寸:直徑2-100mm,厚度0.1-10mm,薄膜:直徑:1-60mm

9. 數(shù)據(jù)采集分析軟件: 能畫出鐵電薄膜的電滯回線,定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流等參數(shù);可以進(jìn)行鐵電薄膜材料的鐵電疲勞性能、鐵電保持性能的測(cè)試,電阻測(cè)量,漏電流測(cè)量。

10、控制方式:計(jì)算機(jī)實(shí)時(shí)控制、實(shí)時(shí)顯示、實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)計(jì)算、分析與存儲(chǔ)

11、軟件采集:自動(dòng)采集軟件,分析可以兼容其他相關(guān)主流軟件。

GWJDN-1000型寬頻高溫介電測(cè)量系統(tǒng)主要技術(shù)參數(shù)

         GWJDN-1000型寬頻高溫介電測(cè)量系統(tǒng)

關(guān)鍵詞:高溫介電,-190-1000

 

GWJDN-1000型高溫介電測(cè)量系統(tǒng)(2019款)高溫介電測(cè)量系統(tǒng)應(yīng)用于高溫環(huán)境下材料、器件的導(dǎo)電、介電特性測(cè)量與分析,通過配置不同的測(cè)試設(shè)備,完成不同參數(shù)的測(cè)試。是高溫介電測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試裝置,是國家科研院所和高等學(xué)府的重要材料測(cè)試設(shè)備。

一、主要用途:

1、測(cè)量以下參數(shù)隨溫度(T)、頻率(f)、電平(V)、偏壓(Vi)的變化規(guī)律:

2、測(cè)量電容(C)、電感(L)、電阻(R)、電抗(X)、阻抗(Z)、相位角()、電導(dǎo)(G)、電納(B)、導(dǎo)納(Y)、損耗因子(D)、品質(zhì)因素(Q)等參數(shù),

3、同時(shí)計(jì)算獲得反應(yīng)材料導(dǎo)電、介電性能的復(fù)介電常數(shù)(εr)和介質(zhì)損耗(D)參數(shù)。

4、可測(cè)試低溫環(huán)境下材料、器件的介電性能

5、可以根據(jù)用戶需求,定制開發(fā)居里溫度點(diǎn)Tc、機(jī)電耦合系數(shù)Kp、機(jī)械品質(zhì)因素Qm及磁導(dǎo)率μ等參數(shù)的測(cè)量與分析。系統(tǒng)集低溫環(huán)境、溫度控制、樣品安裝于一體;具有體積小、操作簡(jiǎn)單控溫精度高等特點(diǎn)。

二、主要技術(shù)參數(shù):

主要技術(shù)參數(shù):

1、溫度范圍: 室溫-1000

2、測(cè)溫精度:   0.1

3.升溫速度:   120/min

4、控溫模式: 程序控制,提供常溫、變溫、恒溫、升溫、降溫等多種組合方式

5、通訊接口:   RS-485

8、電極材質(zhì): 鉑銥合金

9、上電極: 直徑1.6mm球頭電極,引線帶同軸屏蔽層

10、下電極:直徑26.8mm平面電極,引線帶同軸屏蔽層

11、保護(hù)電極:  帶保護(hù)電極,消除寄生電容、邊界電容對(duì)測(cè)試的影響

12、電極干擾屏蔽:電極引線帶同軸屏蔽,樣品平臺(tái)帶屏蔽罩

13、夾具升降控制: 帶程序和手動(dòng)控制,可更換夾具的電動(dòng)升降裝置

14、熱電偶 :熱電偶探頭與樣品平臺(tái)為同一熱沉,測(cè)控溫度與樣品溫度保持一致

15、無電極樣品尺寸:直徑小于40mm,厚度小于8mm

16、帶電極樣品尺寸: 直徑小于26mm,厚度小于8mm

17、軟件功能:自動(dòng)分析數(shù)據(jù),可以分類保存,樣品和測(cè)量方案結(jié)合在一起,生成系統(tǒng)所需的實(shí)驗(yàn)方案,輸出TXT、XLS、BMP等格式文件

18、測(cè)量方案:    提供靈活、豐富的測(cè)試設(shè)置功能,包括頻率譜、阻抗譜、介電譜及其組合

19、標(biāo)準(zhǔn)極化樣品:8片(10mm*1.5mm

20、配套設(shè)備裝置:能夠配合ZJ-3ZJ-6壓電測(cè)試儀進(jìn)行測(cè)量

21、配套設(shè)備裝置:可以配置10MM,20MM30MM,40MM壓片夾具

23、測(cè)試頻率:20HZ-10MHZ

24、測(cè)試電平:100mV2V

25、分辨率:1MHZ

26、輸出阻抗:  100Ω

27、測(cè)試參數(shù):Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z||Y|、RX、G、B、θ、D、Q、Vac、Iac、Rdc、VdcIdc

28、基本準(zhǔn)確度:   0.05%

29、顯示:液晶顯示

30、參數(shù)測(cè)量:多功能圖形和參數(shù)測(cè)量

31、接口方式:   RS232CHANDLER

 

 

 

HTIM-600C型材料高溫電阻率測(cè)試儀主要技術(shù)參數(shù)

 

HTIM-600C型材料高溫電阻率測(cè)試儀

關(guān)鍵詞:電阻率,體電阻,表面電阻,CNAS


HTIM-600高溫電阻率測(cè)試儀是一款針對(duì)于材料的測(cè)量設(shè)備,可以出具CNAS整體認(rèn)證的專業(yè)材料高溫測(cè)量設(shè)備,該儀器采用使用方法多樣化,2000V,6.4ms的采集系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)了是以往產(chǎn)品300倍的抗干擾功能6.4ms的高速測(cè)量,作為皮安表使用進(jìn)行低電容檢查,2×10^19 Ω顯示,0.1fA分辨率標(biāo)配EXT I/O, RS-232C, GP-IB, USB,自行設(shè)計(jì)的懸浮式電路,能不受測(cè)量環(huán)境影響進(jìn)行穩(wěn)定測(cè)量,并且運(yùn)用在產(chǎn)線中實(shí)現(xiàn)高速測(cè)量??蓪?shí)現(xiàn)絕緣材料在高溫下電阻和電阻率試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)開發(fā),可以直接測(cè)量高溫、真空、氣氛條件下樣品的電阻和體電阻率、漏電流等隨溫度、時(shí)間變化的曲線,高溫絕緣材料電阻率測(cè)試儀系統(tǒng)已經(jīng)在航天航空傳感器領(lǐng)域得到很好的應(yīng)用。

一、主要用途:適用于新材料評(píng)估的特性:

1、用于陶瓷元件的絶縁劣化試驗(yàn)

2、貼片電容的IR測(cè)量

3、MLCC(多層陶瓷電容器)的絕緣測(cè)量

4、光伏電池薄膜的絕緣測(cè)量

5、噪音濾波器的絕緣(高阻)測(cè)量

6、液晶設(shè)備的絕緣測(cè)量

7、涂層(涂料)的表面電阻率測(cè)量

8、外殼的帶電度的測(cè)量

9、二極管的微笑泄漏電流測(cè)量

10、光電耦合器的初級(jí)/次級(jí)絕緣(高電阻)測(cè)量

11、打印機(jī)墨粉輥軸的絕緣測(cè)量

12、用于針對(duì)半導(dǎo)體廠家的絕緣密封件的評(píng)估試驗(yàn)

13、用于組裝在貼片機(jī)、分選機(jī)、自動(dòng)化設(shè)備中

一、產(chǎn)品特點(diǎn):

1、多種使用方法的超絕緣計(jì),提供CNAS計(jì)量合格證書

2、能夠作為IR表、靜電計(jì)等高電阻計(jì),以及作為皮安表這種微小電流計(jì)來使用,使用方法非常豐富的測(cè)量?jī)x器。

2、能不受測(cè)量環(huán)境影響進(jìn)行穩(wěn)定測(cè)量,并且運(yùn)用在產(chǎn)線中實(shí)現(xiàn)高速測(cè)量2000V輸出

3、偏差1/60,抗噪音性能300, 通過全新的SM懸浮式電路和三軸連接器的組合,大幅提高抗噪音性能。

4、輸出電壓從0.1V1000V,能夠以0.1V為單位任意設(shè)置

5、6.4ms的高速檢查, 高速檢查和50mA的預(yù)充電功能的組合可以實(shí)現(xiàn)高產(chǎn)量的MLCC檢查。

5、高溫爐膛,耐高溫、抗氧化的測(cè)試夾具,提供CNAS計(jì)量合格證書

二、主要技術(shù)參數(shù):

1、體積電阻率和表面電阻率測(cè)試范圍104次方Ω.cm~1015次方Ω.cm;

2、測(cè)試電壓:10V、50V100V、250V、500V1000V

3、電極材質(zhì):600℃不氧化,三電極尺寸為25mm(被保護(hù)電極直徑)、38mm(保護(hù)電極內(nèi)徑)、50mm(保護(hù)電極外徑),樣品厚度在3mm以內(nèi);

3、測(cè)量精度:①電阻≤1010Ω時(shí),精度±5%;電阻>1010Ω時(shí),精度±10%;②電壓<100V時(shí),精度±5%,電壓≥100V時(shí),精度±2%;

2、溫度范圍;室溫~600℃;

3、控溫精度:溫度≤300℃,精度±1℃,溫度>300℃,精度±2℃;控溫設(shè)備需有測(cè)溫口;(能夠通過計(jì)量CNAS認(rèn)證)

4、測(cè)試軟件:①可設(shè)置連續(xù)升溫測(cè)試,得到不同溫度下體積電阻率、表面電阻率具體值,直接得到體積電阻率-溫度曲線、表面電阻率-溫度曲線;

5、溫度精度:可設(shè)置在某一具體溫度點(diǎn)測(cè)試,得到體積電阻率、表面電阻率在不同時(shí)間點(diǎn)的具體值,直接得到體積電阻率-時(shí)間曲線、表面電阻率-時(shí)間曲線;

5、電腦要求:windows10 系統(tǒng),內(nèi)存16G以上,CPU四核;

6、升溫速率0℃/min~ 10℃/min(不做計(jì)量要求);

7、能通氮?dú)?,測(cè)試時(shí)在高溫和氮?dú)猸h(huán)境下測(cè)試;

9、符合GB/T31838、GB/T10581、GB/T1410標(biāo)準(zhǔn);

10、排氣口有過濾裝置;

 

HTRT-1000型導(dǎo)電材料高溫電阻率測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)

HTRT-1000型導(dǎo)電材料高溫電阻率測(cè)試儀

關(guān)鍵詞:電阻率,導(dǎo)電,合金高溫


電阻率表征技術(shù)是典型的金屬、合金相變行為研究手段,比如在先進(jìn)鋼中的碳運(yùn)動(dòng)行為分析、或是合金析出動(dòng)力學(xué)研究、以及形狀記憶合金的預(yù)相變行為表征的方面。電阻率對(duì)這些相變行為則非常敏感,應(yīng)用電阻率手段研究合金析出動(dòng)力學(xué)行為也是非常重要的手段,是一種可以對(duì)合金時(shí)效析出過程全時(shí)段實(shí)現(xiàn)監(jiān)控的手段。同時(shí),通過電阻率的演化規(guī)律,可以清晰的判斷GP區(qū)、析出孕育時(shí)間、析出結(jié)束(析出量大)和熟化過程等不同的階段。對(duì)于所有析出強(qiáng)化合金,電阻率數(shù)據(jù)都可以提供重要的工藝指導(dǎo)。此外,預(yù)相變過程中出現(xiàn)納米疇并導(dǎo)致模量軟化和弛豫內(nèi)耗行為,特別是在相變初期,用電鏡觀察很難實(shí)現(xiàn),而納米疇的出現(xiàn)卻表現(xiàn)為電阻率的升高,因此通過電阻率演化可以清晰的表征納米疇出現(xiàn)的溫度和疇面積的演化過程。

HTRT-1000本系統(tǒng)主要由高精度高穩(wěn)定度的小電流源、高精度AD采樣芯片以及嵌入式芯片,上位機(jī)智能管理分析軟件、真空多段溫控加熱設(shè)備組成的金屬電阻率智能存儲(chǔ)分析儀器。測(cè)試金屬樣品根據(jù)測(cè)試工藝要求任意設(shè)定加熱、降溫曲線,通過過程中電阻率的精密測(cè)量,完成對(duì)金屬內(nèi)部結(jié)構(gòu)變化如相變、碳化物、固溶度等特性的分析。

一、用途:

1、棒材、管材、異型材金屬導(dǎo)電性能測(cè)量

2、金屬材料研究

3、碳系導(dǎo)電材料的電阻率和電導(dǎo)率測(cè)量

4、金屬氧化物系導(dǎo)電材料的電阻率和電導(dǎo)率測(cè)量

5、石墨烯金屬材料的導(dǎo)電性能測(cè)試

二、器成套組成: 

1.溫度控制箱:任意設(shè)定多段加熱、保溫曲線,加熱范圍:室溫至1000℃??販鼐?plusmn;1oC

2.真空加熱爐管:采用石英真空管實(shí)現(xiàn)真空密閉狀態(tài),達(dá)到6*10-2Pa。

3.控制信號(hào)盒:高精度的恒流源200uA-10mA,通過計(jì)算機(jī)通信控制實(shí)現(xiàn)連續(xù)可調(diào)(或定制),測(cè)量到1uΩ。

4.計(jì)算機(jī):通信控制溫控儀加熱曲線,實(shí)時(shí)接收當(dāng)前溫度值并存儲(chǔ)顯示。結(jié)合溫度值顯示電阻率-溫度曲線。同時(shí)存儲(chǔ)過程的測(cè)試條件信息,測(cè)試過程的數(shù)據(jù)。完成數(shù)據(jù)庫的基本管理、查詢、打印等功能。

5.   低溫裝置:低溫實(shí)驗(yàn)可延伸-150℃,完成高低溫實(shí)驗(yàn)功能。

6.   app遠(yuǎn)程監(jiān)控:手機(jī)app完成對(duì)實(shí)驗(yàn)設(shè)備主要參數(shù)的監(jiān)控,不必守在爐子旁邊也能了解實(shí)驗(yàn)?zāi)壳暗臓顟B(tài)。 

7.適用于科研單位、高等院校對(duì)金屬材料的導(dǎo)電性能、微結(jié)構(gòu)變化、相變信息等測(cè)試。

三、基本技術(shù)參數(shù)

1、控溫范圍;-150 -1000 ,精度:-150 -1000 ,精度±

2、測(cè)量范圍:電  阻:1×10-61×10-1 Ω    分辨率:1×10-7Ω

電阻率:1×10-71×10-2 Ω-mm, 分辨率:1×10-8

3、 材料尺寸:200mm*5mm*1mm,500mm*5mm*1mm,1000mm*5mm*1mm

4、 四線探針;0.5 mm-0.7mm   

5、夾具:針對(duì)不同的樣品可以設(shè)計(jì)不同的夾具

6、外形尺寸:主   機(jī)  1300mm(長(zhǎng))×800 mm(寬)×500mm(高)

7、凈   重:≤60kg

 

 

 

BKTEM-T1型熱電賽貝系數(shù)測(cè)試儀

 

BKTEM-T1型熱電賽貝系數(shù)測(cè)試儀以測(cè)定半導(dǎo)體材料、金屬材料及其他熱電材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites)Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率.

應(yīng)用范圍:1、精確地測(cè)定半導(dǎo)體材料、金屬材料及其他熱電(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康銅、鎳、鎢等金屬,TeBi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSbNiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4)Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率、電阻率。

3、塊體和薄膜材料測(cè)均可以測(cè)試。

4、試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動(dòng)檢出。

5、擁有自分析軟件,獨(dú)立分析,過程自動(dòng)控制,界面友好。

6、國內(nèi)高等院校材料系研究或是熱電材料生產(chǎn)單位。

7汽車和燃油、能源利用效率、替代能源領(lǐng)域、熱電制冷.
  8
、很多其他工業(yè)和研究領(lǐng)域-每年都會(huì)誕生新的應(yīng)用領(lǐng)域

技術(shù)指標(biāo)要求

測(cè)量溫度:   室溫-600

同時(shí)測(cè)試樣品數(shù)量:  1個(gè)

測(cè)量功能:   材料賽貝克系數(shù)和電阻率Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率

控溫精度:   0.5K

測(cè)量原理:   塞貝克系數(shù):靜態(tài)直流電;電阻系數(shù):四端法

測(cè)量精度:   塞貝克系數(shù):<±7%;電阻系數(shù):<±10

樣品尺寸; 塊體方條形:2-3×2-3 mm×10-23mm長(zhǎng),薄膜材料:≥50 nm

熱電偶導(dǎo)距:  6 mm

   流; 0 to 160 mA

加熱電極相數(shù)/電壓:        單相,220V,