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視頻:精科智創(chuàng)TDZT-04C型鐵電測(cè)試儀近代物理學(xué)科設(shè)備

更新時(shí)間:2024-03-04  |  點(diǎn)擊率:582

精科智創(chuàng)TDZT-04C型鐵電測(cè)試儀近代物理學(xué)科設(shè)備

    精科智創(chuàng)TDZT-04C型鐵電測(cè)試儀近代物理學(xué)科設(shè)備之一,關(guān)于壓電材料,鐵電材料的功能更加豐富,體現(xiàn)出來(lái)不同類型的參數(shù),也是物理教學(xué)的重要設(shè)備之一。

   


TDZT-04C 鐵電性能綜合測(cè)試系統(tǒng)是最新一代鐵電材料參數(shù)測(cè)試儀適用于鐵電薄膜、鐵電體材料(既可塊體材料)的電性能測(cè)量,可測(cè)量鐵電薄膜電滯回線、I—V特性及開關(guān)特性,可精確地測(cè)出具有非對(duì)稱電滯回線鐵電薄膜的Pr值。可測(cè)鐵電體材料的電滯回線及I—V特性。

主要技術(shù)指標(biāo):
1.輸出信號(hào)電壓::薄膜:0±10V 陶瓷、材料:0±2000V
2.輸出信號(hào)頻率:薄膜材料1-1000HZ,陶瓷:0-1Hz
3.電容范圍:1000nf 100nf, 精度: 1%。
4.電流范圍: 1nA10A ,精度: 1%。

5、測(cè)試樣品:0-20mm 5個(gè)

6、高壓樣品池:2個(gè),一個(gè)封閉式:8CM*6CM 一個(gè)開放式:8CM*5CM

7、三維移動(dòng)薄膜測(cè)試平臺(tái):直立式探針一套,角度式探針一套

8、電流:1-10倍放大,信號(hào):1-20倍。.數(shù)據(jù)結(jié)口:USBBNC接口。

9. 數(shù)據(jù)采集分析軟件: 能畫出鐵電薄膜的電滯回線,定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流等參數(shù);可以進(jìn)行鐵電薄膜材料的鐵電疲勞性能、鐵電保持性能的測(cè)試,電阻測(cè)量,漏電流測(cè)量。

10.可以配合ZJ-3ZJ-6型壓電測(cè)試儀操作系統(tǒng)